Herramienta para detectar y determinar la posición de la capa Low-E de baja emisividad en vidrios monolíticos o de doble acristalamiento (espesor de vidrio monolítico comprendidos entre 4 a 10 mm). Al verificar las unidades de doble acristalamiento, se deben tomar medidas desde ambos lados para determinar la posición exacta de la capa Low-E.